Doel van het X750 project is om op een innovatieve manier de test-capaciteit op bestaande test-systemen uit te breiden door het toepassen van een 'rugzakje' met extra meet-instrumenten.Doel van het X750 project is om op een innovatieve manier de test-capaciteit op bestaande test-systemen uit te breiden door het toepassen van een 'rugzakje' met extra meet-instrumenten.
Al een groot aantal jaren neemt de hoeveelheid gebruikte technologie in chips toe. Ook worden steeds meer test-circuits in chips opgenomen om een chip sneller, makkelijker en eenvoudiger te kunnen testen (Design vor test).
Voordeel is dat er voor het testen van een enkele chip minder aansluitingen nodig zijn. Echter, om meer chips tegelijk te kunnen testen op hetzelfde test-systeem is uitbreiding van eenvoudige instrumenten noodzakelijk.
De X750-rugzak-tester zorgt hiervoor.
Vanaf 2008 ben ik projectleider X750 geweest en heb voor dit project o.m. de definitie, de instrument specificatie en de organisatorische projectbegeleiding gedaan.
In 2011 heb ik met trots de X750 mogen presenteren op de Teradyne User Conference. (klik hier voor de bijbehorende paper)
Bezoek www.salland.com for meer informatie over X750.